发明专利
专利类型已下证
专利状态2022114447890
专利号| 专利号 | 2022114447890 | 专利名称 | 一种基于电子陷阱效应的EPDM电缆老化状态的评估方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01R 31/00 (2006.01) |
| 申请人 | 西南交通大学 | 申请地址 | 四川省成都市高新区西部园区西南交通大学 |
| 发明人 | 王东阳,胡宇鹏,蔡小虎 | 申请日期 | 2022-11-18 |
| 下证状态 | 已下证 | 更新时间 | 2026-10-14 18:00:45 |
| 专利摘要 | 本发明公开了基于电子陷阱(缺陷)效应的EPDM(三元乙丙橡胶)电缆老化状态的评估方法,包括步骤:获取EPDM电缆老化样本电子陷阱分布中在某一能级范围内对应相关陷阱密度值,计算电子陷阱分布表征因子、计算转换系数、计算EPDM老化样本的老化评估指数、基于评估指数对EPDM电缆老化状态进行评估。本发明的有益效果在于:可准确、方便地对EPDM电缆老化状态进行评估,能够判断电缆的老化状态,对保障电缆的可靠稳定运行具有重要意义。 | ||

| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||


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