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专利号	2015100577352	专利名称	检测半圆孔直径和深度的检具及第一、第二、第三子检具
专利类型	发明专利	国际分类	G01B5/12,G01B5/18
申请人		申请地址	重庆市江北区建新东路260号
发明人		申请日期	2015-02-04
下证状态	已下证	更新时间	2025-08-12 08:23:02
专利摘要	本发明公开了一种检测半圆孔直径和深度的检具及第一、第二、第三子检具，包括第一子检具、第二子检具和第三子检具；第一子检具包括第一基体和第一测量体，第一基体的两侧肩上分别设有第一刀口，第一测量体的直径为被测半圆孔直径的极小值d，高度为被测半圆孔深度的极大值c；第二子检具包括第二基体和第二测量体，在第二测量体的半圆弧面上设有第二刀口，第二测量体的直径为被测半圆孔直径的极小值d，高度为被测半圆孔深度的极小值e；第三子检具包括第三基体和第三测量体，在第三测量体的半圆弧面的中部设有第三刀口，第三测量体的直径为被测半圆孔直径的极大值f，高度为被测半圆孔深度的极大值c；本发明能够快速、直接、准确地判断出半圆孔的直径和深度是否合格。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件