发明专利
专利类型未知
专利状态2017109152179
专利号| 专利号 | 2017109152179 | 专利名称 | 一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01N25/20 |
| 申请人 | 桂林电子科技大学 | 申请地址 | 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号 |
| 发明人 | 刘东静 | 申请日期 | 2017-09-30 |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-14 07:28:06 |
| 专利摘要 | 本发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法,其特征在于包括如下步骤:1)取样;2)拆解分组;3)预处理;4)标准样品比热曲线测试;5)试样测试;6)DSC曲线参数计算;7)自由能计算;8)比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估,为LED元器件的构件选材提供参考,从而提高产品质量。 | ||

| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||


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