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一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法

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专利号 2017109152179 专利名称 一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01N25/20
申请人 桂林电子科技大学 申请地址 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号
发明人 刘东静 申请日期 2017-09-30
下证状态 未知 更新时间 2025-01-14 07:28:06
专利摘要 本发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法,其特征在于包括如下步骤:1)取样;2)拆解分组;3)预处理;4)标准样品比热曲线测试;5)试样测试;6)DSC曲线参数计算;7)自由能计算;8)比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估,为LED元器件的构件选材提供参考,从而提高产品质量。

交易流程

转让材料

买卖双方需提供 平台提供 转让后买方可获得
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专利证书
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卖方 企业营业执照
专利证书原件
身份证
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