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专利号	2021102941762	专利名称	一种用于X射线探测的复合物闪烁体
专利类型	发明专利	国际分类	C09K11/85(2006.01),B82Y20/00(2011.01),B82Y30/00(2011.01),B82Y40/00(2011.01)
申请人	中国计量大学	申请地址	310018浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
发明人	雷磊;徐时清;李登豪;叶仁广;邓德刚	申请日期	2021-03-19
下证状态	已下证	更新时间	2026-07-10 15:07:51
专利摘要	本申请涉及闪烁体的结构设计与应用研究领域。一种用于X射线探测的复合物闪烁体，该闪烁体的分子式如下：KGd0.7Bi0.3F4:Ce/Tb‑CsBa0.3Pb0.7Br3。本专利高性能闪烁体制备X射线探测器件，其探测极限约为5 nGy s‑1，在低剂量X射线探测领域具有很好的应用前景。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件