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专利号	2019100313850	专利名称	一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置
专利类型	发明专利	国际分类	G01N23/223(2006.01)
申请人	东华理工大学	申请地址	344000 江西省抚州市市辖区抚州市学府路56号
发明人	张焱	申请日期	2019-01-14
下证状态	未知	更新时间	2025-01-10 07:33:50
专利摘要	本发明公开一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其包括激发光源、探测装置、样品台、激光辅助分析装置、分析器及电路输出设备。本发明的优点在于：够快速、有效的样品定位及面积、厚度监测，克服样品的厚度、面积变化对全反射光学的影响，提高TXRF测量准确度。采用全反射X射线荧光分析原理，能够快速检测样品中痕量重金属的含量，简单快捷并且低成本；精度高，测量时间短，人为误差小，操作者劳动强度低；本发明X荧光测重金属仪无化学污染、无放射性污染、测量时间短、精度高、结构简单、安全可靠，使用方便。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
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