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一种二氧化钒薄膜真空计及其制备方法

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专利号 2016111077006 专利名称 一种二氧化钒薄膜真空计及其制备方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01L21/12
申请人 东华理工大学 申请地址 江西省南昌市经开区广兰大道418号
发明人 邹继军 申请日期 2016-12-06
下证状态 未知 更新时间 2025-01-10 07:33:23
专利摘要 本发明公开了一种二氧化钒薄膜真空计,该真空计的核心是二氧化钒薄膜,二氧化钒薄膜可以通过管式炉在SiO<sub>2</sub>/Si、Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>/Si、石英、蓝宝石等衬底上生长得到。将生长好的二氧化钒薄膜贴合电极金属模板放入到电子束蒸发镀膜机沉积铬层,而后利用刻蚀金属模板,在感应耦合等离子体刻蚀系统中刻蚀没有被模板保护的二氧化钒薄膜;再放入电子束蒸发镀膜机,用刻蚀好的二氧化钒薄膜贴合电极金属模板进行沉积金层;最后,用快速热退火技术消除二氧化钒薄膜表面残余应力和组织缺陷,从而得到二氧化钒薄膜器件。将二氧化钒薄膜器件与微控制器、光源控制电路、电压源、电流采集电路和显示电路连接到一起,构成一个完整的真空计。由于二氧化钒薄膜材料对于温度和红外光照都极其敏感,这种真空计具有测量范围较宽,易于使用、成本低和体积小的特点。

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身份证
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