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一种基于高斯响应矩阵的NaI(TI)闪烁探测器γ能谱高分辨反演解析系统及方法

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专利号 2014100613195 专利名称 一种基于高斯响应矩阵的NaI(TI)闪烁探测器γ能谱高分辨反演解析系统及方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01T1/36(2006.01)
申请人 申请地址 344000江西省抚州市环城西路14号
发明人 申请日期 2014-02-24
下证状态 未知 更新时间 2025-01-10 07:33:12
专利摘要 本发明涉及一种基于高斯响应矩阵的NaI(TI)闪烁探测器γ能谱高分辨反演解析过程及方法,解析过程包括谱线预处理、寻峰与峰边界处理、分辨率刻度、本底扣除、高斯响应矩阵生成、反演解析。根据NaI(TI)闪烁探测器特征及成谱过程的物理特性,不同能量γ光子在探测器中的响应对应光电峰的半高宽不同,且光电峰峰形近似高斯函数。通过提取谱线的半高宽参数,然后自适应半高宽扣除本底,构建放射源与γ谱之间通用高斯响应矩阵,最后用该响应矩阵反演解析其它NaI(TI)闪烁探测器测量的γ仪器谱。应用本发明方法解析的结果是测量谱线在该响应矩阵下对应的能量点或接近于理论上物理谱线的解,该方法对谱线解析能力明显提高了。

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