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专利号	2018104292736	专利名称	一种纳米结构磁性测量方法
专利类型	发明专利	国际分类	G01R33/12
申请人	金华职业技术学院	申请地址	浙江省金华市婺州街1188号
发明人	傅晶晶	申请日期	2018-04-24
下证状态	已下证	更新时间	2026-07-13 21:11:09
专利摘要	本发明涉及物理测量技术领域，一种纳米结构磁性测量方法，测量装置包括激光器、分束器、凸透镜I、光电探测器、锁相放大器、棱镜偏振器、凸透镜II、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、凸透镜III、波片I、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁铁、样品台、信号发生器、示波器、波片II、凸透镜IV、平面镜，采用同一束光的两个正交偏振分量干涉的方法来获得样品表面的磁化信息，两个偏振光分量共用一个光路，避免光束分离和重新汇集，能够相对较容易地保证两个光束以同样的光路传播，并减少光路中的光学元件，使得信号较少地受样品以及干涉环路中光学元件的移动影响，提高了信噪比，采用斜入射的光束测量克尔效应的纵向、横向和极向三个分量。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件