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一种光学元件损伤测试方法及装置

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专利号 2019107410781 专利名称 一种光学元件损伤测试方法及装置
专利类型 发明专利 国际分类 G01N21/95,G01N21/94
申请人 衡阳师范学院 申请地址 湖南省衡阳市珠晖区衡花路16号(东校区)
发明人 戴志平 申请日期 2019-08-12
下证状态 未知 更新时间 2025-05-27 08:04:32
专利摘要 本发明涉及光学元件损伤测试技术领域,尤其涉及一种新型光学元件损伤测试方法及装置。根据泵浦光获取成像光源一、成像光源二和成像光源三;由所述成像光源一生成元件表面损伤图像;由所述成像光源二生成元件表面图像;由所述成像光源三生成多张元件表面细节图像;根据所述元件表面损伤图像、所述元件表面图像、所述元件表面细节图像生成元件损伤整体图,并对所述元件损伤整体图上的损伤部位进行标记显示。本发明不仅能够清晰的区分出光学元件表面异物或损伤,而且能够得到详细的损伤区分图,降低对光学元件的维护困难程度,减少光学元件的维护成本。

交易流程

转让材料

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买方 企业营业执照
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卖方 企业营业执照
专利证书原件
身份证
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