发明专利
专利类型未知
专利状态2019107410781
专利号专利号 | 2019107410781 | 专利名称 | 一种光学元件损伤测试方法及装置 |
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专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01N21/95,G01N21/94 |
申请人 | 衡阳师范学院 | 申请地址 | 湖南省衡阳市珠晖区衡花路16号(东校区) |
发明人 | 戴志平 | 申请日期 | 2019-08-12 |
下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-05-27 08:04:32 |
专利摘要 | 本发明涉及光学元件损伤测试技术领域,尤其涉及一种新型光学元件损伤测试方法及装置。根据泵浦光获取成像光源一、成像光源二和成像光源三;由所述成像光源一生成元件表面损伤图像;由所述成像光源二生成元件表面图像;由所述成像光源三生成多张元件表面细节图像;根据所述元件表面损伤图像、所述元件表面图像、所述元件表面细节图像生成元件损伤整体图,并对所述元件损伤整体图上的损伤部位进行标记显示。本发明不仅能够清晰的区分出光学元件表面异物或损伤,而且能够得到详细的损伤区分图,降低对光学元件的维护困难程度,减少光学元件的维护成本。 |
买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
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企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 |
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