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专利号	2024110860686	专利名称	一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备
专利类型	发明专利	国际分类	G01R 31/26 (2020.01),G01R 31/01 (2020.01),G01R 1/04 (2006.01)
申请人	张家港市星熠科技有限公司	申请地址	江苏省苏州市张家港市张家港经济技术开发区国泰北路1号A幢1217室
发明人		申请日期	2024-08-08
下证状态	未缴费	更新时间	2025-02-06 15:20:15
专利摘要	本发明涉及半导体检测技术领域，尤其涉及一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备，所述具有辐射干扰结构的半导体检测设备包括立柱、辐射干扰腔、齿环、上料部件和检测部件，所述辐射干扰腔固定连接在所述立柱上端，所述齿环转动连接在所述辐射干扰腔内，所述齿环开设有呈环形阵列设置的多个凹槽，多个所述凹槽内侧壁上分别固定连接有托盘，本发明中拨动板就会推动新的半导体重新这一组放置板进行上料，从而实现竖板利用放置板对托盘上料，而拨动板能够对放置板进行上料，因此自动对托盘不断的上料作用。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件