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基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法

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专利号 2014107660479 专利名称 基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法
专利类型 发明专利 国际分类 H04L12/727
申请人 哈尔滨工业大学 申请地址 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
发明人 俞洋 申请日期 2014-12-12
下证状态 未知 更新时间 2025-01-11 09:21:07
专利摘要 基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法,涉及一种小时延缺陷的测试路径选择方法。它为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间长、速度慢的问题。本发明所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法,首先对测试电路读入分析电路节点连接信息时的算法及存储数据的格式;然后对所要测试电路在读取连接信息的基础上转换为有向无环路图的形式;最后使用蚁群优化算法求解电路网络中的最长通路作为小时延缺陷的关键路径。在保证较高的正确率的前提下,加快了运行速度,以提高路径选择方法在实际应用的实用性。适用于小时延缺陷的测试路径的选择。

交易流程

转让材料

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手续合格通知书
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企业组织机构代码证
身份证
卖方 企业营业执照
专利证书原件
身份证
专利证书原件

服务保障

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