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基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法

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专利号 2016111672020 专利名称 基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法
专利类型 发明专利 国际分类 G02B21/06
申请人 申请地址 上海市杨浦区军工路516号
发明人 申请日期 2016-12-16
下证状态 未知 更新时间 2025-01-11 09:03:26
专利摘要 本发明涉及一种基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法,在现有暗场光学显微镜的基础上,利用微粒的散射光作为显微镜的照明光源,被散射光照明的区域可以获得超越衍射极限的空间分辨率,实现了空间超分辨成像。相比于普通的明场或暗场显微镜,本发明具有更高的空间分辨率。相比于近场扫描光学显微镜,通过微米颗粒在样品表面的扫描,可以获得整个样品表面的超分辨图像,本发明具有更快的成像速度,不需要在样品表面逐点扫描,每次成像范围可以达到10μm2。

交易流程

转让材料

买卖双方需提供 平台提供 转让后买方可获得
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专利权转让协议
办理文件副本请求书
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专利证书
手续合格通知书
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企业组织机构代码证
身份证
卖方 企业营业执照
专利证书原件
身份证
专利证书原件

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