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利用光学系统的模式分解计算紧聚焦三维自旋密度的方法

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专利号 2022108642576 专利名称 利用光学系统的模式分解计算紧聚焦三维自旋密度的方法
专利类型 发明专利 国际分类 G02B27/00(2006.01)
申请人 苏州大学 申请地址 215000 江苏省苏州市吴中区石湖西路188号
发明人 王子璇 申请日期 2022-07-22
下证状态 未知 更新时间 2025-01-11 08:44:42
专利摘要 本发明公开了一种利用光学系统的模式分解计算紧聚焦三维自旋密度的方法,该方法通过将光源发出的部分相干光、紧聚焦透镜和紧聚焦透镜后的空间等效为非线性光学系统,计算非线性光学系统的输出信号,该输出信号表示为紧聚焦透镜焦平面上3×3的交叉谱密度函数,再利用模式分解理论将非线性光学系统的输出信号转化为一系列线性光学系统的输出信号的非相干叠加,最终得到由紧聚焦透镜焦平面上3×3的交叉谱密度函数表示的三维自旋密度。本发明降低了紧聚焦自旋密度的计算难度和计算时间,促进了对光学自旋轨道相互作用的研究。

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