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可提高测试精度的薄膜电弱点测试仪

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专利信息

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专利号 2018101110967 专利名称 可提高测试精度的薄膜电弱点测试仪
专利类型 发明专利 国际分类 G01R1/04;G01R31/12
申请人 钱立文 申请地址 安徽省铜陵市铜官区官塘新村26栋202室
发明人 钱锦绣 申请日期 2018-02-05
下证状态 未知 更新时间 2023-06-17 08:08:10
专利摘要 本发明可提高测试精度的薄膜电弱点测试仪,包括机架(1),固设在机架()上的连杆(2),设置在连杆(2)两侧的可转动的绝缘块(3),固设在绝缘块(3)一侧的绝缘板(4)以及固设在绝缘板(4)上的导电装置。本发明导电橡胶板不易变型,且可转动与膜面充分柔性接触,不会导致薄膜部分区间施加不到电压,测试精度提高。

交易流程

转让材料

买卖双方需提供 平台提供 转让后买方可获得
企业 个人 专利代理委托书
专利权转让协议
办理文件副本请求书
发明人变更声明
专利证书
手续合格通知书
专利登记簿副本
买方 企业营业执照
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专利证书原件
身份证
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