行业类型: 不限 - 新兴领域: 不限 新材料-新材料相关服务 专利类型:不限 申请人类型:不限 专利状态:不限 更新时间:不限
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专利号:2019221009733
国际分类:G01N21/01
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2019-11-29
专利类型:实用新型
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专利号:2022219407325
国际分类:G01N21/88
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2022-07-26
专利类型:实用新型
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专利号:2022211707105
国际分类:G01N21/01,B25B11/00
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2022-05-16
专利类型:实用新型
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专利号:2022232000310
国际分类:G01N21/88(2006.01),G01N25/72(2006.01)
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2022-11-22
专利类型:实用新型
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专利号:202220711528X
国际分类:G01N21/84(2006.01),G01N15/02(2006.01),G01N1/44(2006.01)
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2022-03-21
专利类型:实用新型
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专利号:2020227198657
国际分类:G01B3/1003,G01B3/1005
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2020-11-23
专利类型:实用新型
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专利号:2022215620651
国际分类:G01N21/88(2006.01),B61K9/08(2006.01)
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2022-06-22
专利类型:实用新型
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专利号:2021212664174
国际分类:G01N21/01(20060101),G01N21/25(20060101)
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2021-06-07
专利类型:实用新型
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专利号:2020205450871
国际分类:G01N21/31(2006.01),G01N21/82(2006.01),G01N21/01(2006.01),G05B19/042(2006.01),G05D23/19(2006.01),C12M1/38(2006.01),C12M1/00(2006.01)
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2020-04-14
专利类型:实用新型
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专利号:2019103708908
国际分类:G01N21/359(20140101)
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2019-05-06
专利类型:发明专利
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专利号:2015106148577
国际分类:G01N21/17,G01V8/00
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2015-09-24
专利类型:发明专利
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专利号:2020110485502
国际分类:G01N21/25(2006.01)
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2020-09-29
专利类型:发明专利
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专利号:2011101722745
国际分类:G01N21/73(2006.01),G01K13/02(2006.01)
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2011-06-24
专利类型:发明专利
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专利号:2013100387861
国际分类:G01N15/08(2006.01)
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2013-01-31
专利类型:发明专利
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专利号:2013107381669
采用基于短腔腔增强关联光谱技术测量气体浓度的装置测量气体浓度的方法
国际分类:G01N21/39
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2013-12-29
专利类型:发明专利
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专利号:2015105346744
国际分类:G01N21/65,C04B35/01,C04B35/622
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2015-08-27
专利类型:发明专利
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专利号:2015107622255
国际分类:G01N21/17,G01N21/31,G01N21/03
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2015-11-10
专利类型:发明专利
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专利号:2016103309247
基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法
国际分类:G01N21/17
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2016-05-18
专利类型:发明专利
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专利号:2016109075464
基于多角度光散射-透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量方法
国际分类:G01N15/02,G01N21/41,G01N21/51,G01N21/59
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2016-10-17
专利类型:发明专利
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专利号:2016109075483
基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法
国际分类:G01N15/02,G01N15/00
专利状态:已下证
申请人类型:
申请日期:2016-10-17
专利类型:发明专利
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